鹵素如何測(cè)試？鹵素測(cè)試要點(diǎn)

時(shí)間：2013-11-29　作者：admin　瀏覽：4237　[ 返回 ]

鹵素，是多種化學(xué)元素的總稱。主要包括氯（Cl）、溴（Br）、氟（F）、碘（I）、砹（At）。這些元素被廣泛應(yīng)用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)領(lǐng)域。由于這些元素帶有毒性，許多國家針對(duì)一些消費(fèi)品，主要是電子電器產(chǎn)品制定了相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)來限制鹵素的含量，因此，電子產(chǎn)品在出口到這些國家時(shí)，必須進(jìn)行鹵素測(cè)試，以確定電子產(chǎn)品是否符合出口國相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。那么，如何從半成品或者是成品中測(cè)試出鹵素的真正含量呢？下面就詳細(xì)說一下其中的要點(diǎn)。

鹵素測(cè)試要點(diǎn)

首先，應(yīng)了解相關(guān)的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，如下行業(yè)對(duì)鹵素有相應(yīng)規(guī)定：
◎　日本電子電路工業(yè)會(huì)（JPCA），標(biāo)準(zhǔn)JPCA-ES-01-2003
◎　國際電工委員會(huì)（IEC），標(biāo)準(zhǔn)IEC61249-2-2
◎　國際電子工業(yè)連接協(xié)會(huì)（IPC），標(biāo)準(zhǔn)IPC-4101B
以上行業(yè)對(duì)鹵素的限值要求均為：
Cl <=900 ppm
Br<=900 ppm
Br + Cl <= 1500 ppm

在了解清楚以上標(biāo)準(zhǔn)后，對(duì)樣品進(jìn)行采樣、化驗(yàn)，開始測(cè)試，測(cè)試的方法有：
鹵素XRF快速檢測(cè)
鹵素元素的化學(xué)測(cè)試
鹵素檢漏法
特定鹵素有機(jī)物的化學(xué)測(cè)試
鹵素整機(jī)驗(yàn)證
PVC成分分析

這里就以鹵素檢漏法為樣例，詳細(xì)說明一下。

當(dāng)鉑加熱到800一900℃時(shí)會(huì)產(chǎn)生正離子發(fā)射，在鹵素氣氛中這種正離子發(fā)射將急劇增加，這就是所說的“鹵素效應(yīng)”。利用此效應(yīng)而設(shè)計(jì)的檢漏儀稱為鹵素檢漏儀。

它的主要部件是敏感元件，就是一個(gè)二極管，這個(gè)二極管的內(nèi)、外筒及加熱絲都是用鉑制成的。內(nèi)筒被加熱絲加熱后發(fā)射正離子，外筒收集正離子，離子流的大小可用檢流計(jì)(或經(jīng)放大器放大后)指示出來，也可用音響來指示。有的儀器的敏感元件沒有內(nèi)筒而直接用加熱的鉑絲做發(fā)射極，加熱絲的供電可用直流電源也可用交流電源。

根據(jù)使用條件不同，鹵素檢漏儀可分為兩類敏感元件和待檢系統(tǒng)相連的稱為固定式鹵素檢漏儀；不與待檢系統(tǒng)相連的稱為攜帶式鹵素檢漏儀。前者在檢漏時(shí)需要將被檢系統(tǒng)抽到0.1一10Pa的絕對(duì)壓力，示漏氣體(鹵素氣體)通過漏孔從外部進(jìn)人系統(tǒng)中，并進(jìn)人敏感元件所在空間。攜帶式鹵素檢漏儀則要求被檢系統(tǒng)中預(yù)先充人高于0.1M Pa的示漏氣體。儀器探頭(敏感元件)在大氣中工作，通過漏孔漏到外面來的示漏氣體由探頭檢測(cè)出來。

鹵素檢漏儀的最小可檢泄漏率極高。示漏氣體采用氟里昂、氧仿、碘仿、四氯化碳等鹵素化合物，其中以氟里昂-12的效果最好。

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